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第23届IEEE亚洲测试学术会议成功召开
2014-12-05 | 【 【打印】【关闭】

  2014年11月16日-20日,第23届IEEE亚洲测试学术会议(IEEE 23rd Asian Test Symposium,简称ATS’14)及第15届IEEE寄存器传输级及高层国际研讨会(简称WRTLT’14)在杭州金溪山庄顺利召开。本次会议由IEEE Computer Society,Test Technology Technical Council和中国科学院计算技术研究所(简称计算所)共同主办,并由中国计算机学会容错专委、浙江农林大学、杭州电子科技大学协办。计算所李华伟研究员与IEEE Fellow、美国Duke University的Krishnendu Chakrabarty教授共同担任ATS’14大会主席,计算所韩银和研究员与香港中文大学徐强副教授共同担任ATS’14程序委员会主席。杭州电子工业大学孙玲玲教授和华为公司美研所Xinli Gu 博士共同担任WRTLT’14大会主席,计算所张磊副研究员和湖南大学尤志强副教授共同担任WRTLT’14程序委员会主席。

  IEEE ATS国际会议于1992年由中国和日本的学者联合发起,此后每年举办一次,历年来多选在亚洲地区召开,至今已在中国大陆、日本、印度、中国台湾等地召开了22次年度会议。ATS是IEEE在亚洲地区召开的测试领域国际性学术会议,主要关注于国际上电路系统测试、芯片测试、器件测试技术在学术研究及工业应用中的前沿的研究成果,并已拓展到软件测试、电路可靠性和硬件安全等相关研究方向。随着以中国大陆、台湾、日本和韩国为代表的亚洲集成电路产业的迅速发展和崛起,ATS逐渐受到越来越多的学术界和工业界的关注和重视。在测试领域相关会议中,其规模和重要性仅次于IEEE国际测试会议和IEEE VLSI测试会议。IEEE WRTLT国际研讨会在2000年由中国和日本学者共同发起,探讨高层的测试技术,也是每年一届,一般依附IEEE亚洲测试学术会议召开。

  本次ATS’14和WRTLT’14会议共吸引了140余位境内外专家学者参加,其中来自中国大陆50余位,来自美国和日本各20余位,其余的参会者分别来自德国、法国、英国、波兰、印度、加拿大、爱沙尼亚、意大利、韩国、挪威、菲律宾、中国台湾和中国香港等国家和地区。全球领先的电子设计自动化(EDA)企业(Mentor、Synopsys、Cadence等)、测试设备供应商(Advantest、Avago等)和集成电路设计公司( Intel、AMD、威盛、华为等)等都派有技术研究人员和工程师参加会议。

  11月17日上午,ATS’14会议正式开幕,大会主席李华伟研究员致开幕词。大会邀请了IEEE Fellow、美国Carnegie Mellon University教授Shawn Blanton做题为“用数据挖掘改善设计、制造和测试”的大会主题报告,介绍了测试领域的大数据研究情况,邀请了Mentor公司的市场总监Greg Aldrich和复旦大学的孙清清博士分别就DFT技术转变和半浮栅晶体管做大会特邀报告。作为IEEE TTTC教育计划的一部分,在开幕前一天,还邀请了美国Duke University教授Krishnendu Chakrabarty和美国Auburn University教授Adit Singh做了关于故障诊断和统计自适应测试两个专题、为期一天的学术讲座。

  ATS’14会议共收到来自世界各地94篇投稿文章,确定正式录用46篇,录用率49%。这些前沿的研究成果在为期2天的交流中,分为15个分会进行报告;涉及的内容包括:测试生成、3D测试、SOC测试、在线测试、模拟电路测试、存储器测试、新型器件测试、功耗温度感知测试、时延测试、系统测试、测试压缩、故障诊断、后硅验证、良率优化、可靠性设计、容错设计、时序偏差检测和硬件安全等重要和前沿的研究方向。会议还组织了5个特殊专题分会和1个测试大数据专题研讨会,邀请了国际上著名的专家学者20余人针对6个热点专题发言并讨论。会议还邀请了三大EDA企业(Mentor、Synopsys、Cadence)的技术专家针对层次化测试压缩技术进行学术讲座。此外,会议还组织了IEEE TTTC亚洲区博士论文竞赛,香港中文大学蒋力博士在竞赛中获胜,将代表亚洲区参加2015年在国际测试会议的终赛。

  ATS’14会议于11月19日上午完成了最后的分会讨论,并在热烈的学术讨论气氛中胜利闭幕。接下来1天半的时间,参加WRTLT’14的学者围绕测试和验证等内容展开了讨论。WRTLT’14研讨会邀请了IEEE Fellow、Virginia Tech教授Michael Hsiao做大会主题报告,针对“门级测试,寄存器传输级测试和软件测试之间的关联”报告了最新的学术进展。随后分为6个分组报告了22篇最新的研究进展和学术论文,涉及芯片自测试、测试生成、时延测试、验证和可靠性等重要研究方向。此外,WRTLT’14大会主席华为Xinli Gu博士还邀请了Intel、AMD、华为等企业的技术专家针对芯片级测试和系统级测试进行专题研讨,这些来自企业界的技术专家介绍了各自技术,并与现场观众进行了热烈的交流。

  本次ATS’14和WRTLT’14会议在杭州的圆满召开,为测试领域的国内外学术界和企业界交流讨论提供了有效的平台,展现了中国学者在集成电路测试领域的国际影响力,对于促进世界尤其是亚洲地区电子测试技术的研究和发展有重要意义。

 
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