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2018年第十届中国测试学术会议在哈尔滨成功举办
2018-08-21 | 【 【打印】【关闭】

  由中国计算机学会(CCF)主办,CCF容错计算专业委员会和哈尔滨工业大学承办的第十届中国测试学术会议(CTC 2018)于8月15日至17日在哈尔滨太阳岛花园酒店召开。本次会议与国际会议 International Test Conference in Asia 2018 (ITC-Asia)、International Workshop on Cross-layer Resiliency 2018 (IWCR) 联合举办。会议邀请了30多位 IEEE/ACM/CCF Fellow 等顶级专家以及企业代表携手 10场大会特邀报告,7个高端产业论坛,50多场论坛特邀报告,60多场学术论坛报告,参会人数超过500人,是本年度国内集成电路测试与容错计算领域规模最大、规格最高、影响最广的一次学术界盛会。


会场照片

  国重常务副主任李晓维研究员担任本次测试学术会议的大会主席,国重的李华伟研究员和韩银和研究员分别为CCF容错专委主任和秘书长。


大会主席李晓维研究员致开幕词


容错专委主任李华伟研究员致欢迎词


容错专委秘书长韩银和研究员主持

  会议开幕式由容错计算专委秘书长韩银和研究员主持,容错计算专委主任李华伟研究员致欢迎词,中国计量测试学会秘书长马爱文、IEEE TTTC Chair Chen-Huan Chiang、ACM SigDA 主席 Sharon HU、CTC2018 主席杨孝宗教授和李晓维研究员致开幕词,程序会议主席董剑介绍本次会议概况。

  本次会议邀请四位IEEE Fellow做大会报告,分别为:美国圣母大学的 X. Sharon Hu 教授做题为“A Cross-Layer Perspective for Energy Efficient Processing—from Beyond-CMOS Devices to Deep Learning”的主题报告;Synopsys 公司首席架构师 Yervant Zorian 博士做题为“Automotive Electronics Today: Quality, Safety & Security”的主题报告;美国德州大学达拉斯分校的 W. Eric Wong 教授做题为“Effective Software Fault Localization: From One-Bug to Multiple-Bug Programs”的主题报告;韩国科学与技术高等研究院 KAIST 的 Naehyuck Chang 教授做题为“Design Automation of Low-power Battery Electric Vehicles”的主题报告;四位专家的演讲主题涵盖人工智能算法的硬件加速、集成电路设计安全、关键软件设计与错误定位、无人电动汽车等热门话题,切中当前国家布局集成电路领域的核心问题和关键技术。

  除了重磅的主题演讲外,七个前沿技术专业论坛和 ICCAD 论文预讲大会同样精彩。针对集成电路、软件、汽车电子系统等可靠可信领域关键问题和最新研究进展,论坛邀请了50 多名学术和产业专家到会报告。


参会人员合影

 
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